Untitled HOME GANTI PASSWORD LOGOUT




Selamat Datang
SELAMAT DATANG DI PERPUSTAKAAN ONLINE

E-JOURNAL

A Soft Error Study on Tri-gate based FinFET and Junctionless-FinFET 6T SRAM Cell ? A Comparison



  ID Publisher : 0000018886
  Nama Jurnal : Jurnal TELKOMNIKA (Telekomunikasi Komputasi Elektronika Kendali)
  Pengarang : P Chitra, S Ravi, V N Ramakrishnan
  Subjek : FinFET 6T-SRAM, Junctionless 6T-SRAM, SEU Radiation, LET, HeavyIon, TCAD Simulation
  Edisi : 14 / 4 / Desember 2016


Download File...

  Isi_Artikel_235075087618.pdf
  [ 961651  bytes ]


Kembali


Untitled
          
LINK FAKULTAS
MENU MAHASISWA